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2013年12月 5日 (木)

半導体検査用プローブカード大手の日本電子材料が特許表彰、ロジックIC向け海外で好調

弁理士 佐成 重範 Google検索 SANARI PATENT

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日本電子材料の上半期報告が届いたが、プローブカードの機能について先ず一般向けに解説し、「プローブカードは、半導体の製造工程においてウエハーテストと呼ばれる検査工程で活躍している。ウエハーテストでは、半導体が設計通りに動作するか、電気的に検査するが、プローブカードの役割は、半導体デバイスの個々の電極と半導体テスターを電気的につなぐことである。そのためプローブカードには、最大数万本のプローブをミクロンオーダーで組み立てる製造技術や高度な配線基板の設計技術など様々な技術力が必要である」と述べ、現下、半導体市場がアジアを中心として成長していることに対処し、欧米のほか中国・台湾・韓国の各拠点からグローバルサポートを強力に推進していると報告した。

技術戦略の一環として昨月(2013-11-25)受賞した「複数ICチップの同時測定の生産性向上技術」について特に詳細に説明しているが、「地域産業としての貢献」が評価されていることにも注目すべきであろう。

(訂正の御要求は sanaripat@gmail.com にご送信ください) 

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